能源研究技術平臺新購置的飛行時間-二次離子質譜儀（TOF SIMS，IONTOF M6）已經完成安裝調試和價格公示，定于2月20日起正式面向所內外開放使用。請用戶登錄科研儀器管理系統（IMS）搜索“飛行時間-二次離子質譜儀”進行在線預約。

　　TOF-SIMS是一種非常靈敏的表面分析技術，適用于許多工業和研究應用。該技術通過對一次離子束轟擊樣品表面產生的二次離子進行質量分析，并行探測所有元素和化合物，具有極高的傳輸率(可達到100%)，只需要一次轟擊就可以得到研究點的完整質量譜圖，從而提供有關樣品表面、薄層、界面的詳細元素和分子信息，并能提供全面的三維分析。其用途廣泛，包括半導體，聚合物，涂料，涂層，玻璃，紙張，金屬，陶瓷，催化劑，生物材料，藥品和有機組織等領域。

　　預約聯系人：張紅燕

　　聯系電話：84379617

　　送樣地點：能源基礎樓5號樓101室